Nikon Metrology X. Tract,Zobrazení Po Vrstvách

Code X. Tract

X.Tract umožnuje CT kvalitu inspekce u komplexních mnohavrstvých elektronických desek a sestav aniž by je bylo nutné rozrezat. V rychlém a uživatelsky prívetivém procesu se vytvorí virtuální mikro-rezy v oblasti zájmu. X.Tract odhalí defekty, které jsou pri standardním 2D RTG skryty ve vrstvách komponent (tzv. package on package- PoP, a treba to celé ješte stíneno plechem a osazeno na osmivrstvé desce). Nový nástroj X.Track umožnuje plne automatickou akvizici dat, výkonné zpracování obrazu  a detailní reportování výsledku. S X.Tractem získáte lepší vhled do komplexních struktur vedoucí ke snížení chybovosti výrobního procesu a zvýšení produktivity.

Delivery Info

Enter Delivery Information here

Returns Policy

Enter Returns Policy here

Click to view complete product details

Snadná detekce defektu na komplexních mnohavrstvých deskách. Je možné virtuálne procházet skrze jednotlivé vrstvy a videt pouze strukturu v daném rezu – tím pádem komponenty z jiných vrstev neprekrývají oblasti inspekce, tak jako u 2D projekce klasickým rentgenem. Použitelné jak pro malé, tak pro velké desky plošných spoju. Procesy lze automatizovat (programovat) a tím dosáhnout velmi rychlého sberu dat, rekonstrukce a analýzy. Dostupné pro systémy XT V 160.

Close

POP-IN HTML goes here

Close

Your Basket

Your basket is currently empty