Nikon Metrology Xt H 225, Micro Focus X-Ray & Ct (Rtg & Ct)

Code XT H 225

Detailní zobrazení a merení vnitrních cástí zapojení je casto základem pro kontrolu jakosti, detekci chyb a materiálový vývoj. XT H 225 nabízí výkonný micro-focus zdroj RTG zárení, veliký inspekcní prostor a predevším RTG a CT snímky s velmi vysokým rozlišením. XT H 225 je vhodný na celou škálu aplikací, od inspekce malých odlitku, pres inspekci plastových výrobku, materiálový výzkum, elektroniku až po inspekci nerostu. Jedná se o univerzálne využitelné zarízení.

Delivery Info

Enter Delivery Information here

Returns Policy

Enter Returns Policy here

Click to view complete product details

Flexibilní kombinace rentgenu a pocítacové tomografie (X-Ray & CT)  v jednom systému. RTG pro rychlou vyzuální inspekci a CT pro dukladnou analýzu.

 Rychlá akvizice dat a vysoká kvalita obrazu.

Rychlá ovladatelnost díky interaktivnímu ovládání joystickem.

Vysoké rozlišení  digitálního zobrazení  a zpracování obrazu.

Vestavené bezpecnostní prvky umožnují provoz bez speciálních opatrení a dalších nákladu.

Kompatibilita s prumyslovými standardy.

Vhodné na vyhodnocování a merení presných plastových soucástí, malých odlitku, komplexních mechanismu, vnitrních struktur a dalších. Dále na pokrocilé zkoumání materiálu a analýzu biologických struktur.

Automatizované porovnání naskenovaného objektu s CAD modelem.

Digitální archivace modelu.

Specifikace:

5 µm focal spot reflection target

25 až 225 kV

0 až 2000 µA

10kg nosnost petiosého plne programovatelného manipulátoru.

Maximální snímatelná plocha 250 x 330mm.

Geometrické zvetšení až 160x.

Systémové zvetšení až 400x.

Rozlišení až 1 mikron

Close

POP-IN HTML goes here

Close

Your Basket

Your basket is currently empty